Structure Probe(美国)

SPI

美国StructureProbe,Inc., www.2spi.comStructureProbe,Inc成立于1970年5月，创始人CharlesA.Garber博士，同时他也是公司的董事长兼首席执行官。时至今日公司的目标仍然是创立电子显微镜和表面分析领域高质量独立的测试和分析实验室。从仅仅拥有一台扫描电子显微镜和3个员工起步，Garber博士领导公司成为拥有4个实验基地，员工人数超过30人和价 值超过数万美元的电子光学设备公司。截至到1985年，StructureProbe,Inc已经变成美国东海岸首屈一指的实验室，同时作为解决电子显微镜领域的相关问题的公司，该公司在工业，政府机构甚至学术界都拥有广泛的客户。 1985年以后的时期，市场地位发生了根本变化，例如研发实验室的发展，从新泽西，康奈提格，纽约一直到美国南部，同时美国的基础技术商业也从那些大量从事技术研究的国外公司学到了一些东西。另外，由于便宜的长途通讯和传真的增长，还有便宜的24小时快递服务公司，例如UPS，DHL和FedEx的发展，客户对本地实验室的需求和依赖变得越来越小。 因此，在1997年，StructureProbeInc公司将其运作的所有的分析和咨询服务部门统一到一个地方，总部位于宾西法尼亚的WestChester。这次统一调整是很明智的，因为公司并没有因为调整带来的远距离而失去客户。大多数的样本连夜就可以由快递公司送到目的地，和我们过去拥有多个实验基地没什么区别。 我们了解我们的技术装备和设施，当一种设备由于多年的使用显得有些旧的时候，我们就会对其进行升级，升级后的设备几乎可以和新设备相媲美。我们的JEOLModelJSM-840扫描电子显微镜技术可以提供很高的分辨率，即使非传导材料在低加速电压的情况下我们也能得到10X到100,000X的图像。JEOL分析扫描透射电子显微镜（STEM）和透射电子显微镜（TEM）可以在现代Noran仪器上提供高质量的EDS数据，并且可以在10nm的精微尺度上完成选区电子衍射。同时，在室内，我们还有一些杰出的设备，例如光学显微镜、超薄切片