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NAPSON 半自动四点探针Mapping测试仪
描述：CRBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导 电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻，具有图谱软件功能，可作二维、三维图形； 具有厚度/边缘/温度补偿功能；... 立即询价上海市
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