型号/规格:HORIBA 椭圆偏振光谱仪
产品描述:HORIBA椭偏仪 椭圆偏振光谱仪 HORIBA 椭圆偏振光谱仪Auto SE & Smart SE 是一种新型薄膜测量工具。需简单的几个按钮,几秒钟内即可自动完成样品测量和分析,...
型号/规格:SpecEl-2000-VIS
产品描述:SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率,吸光率及膜厚的测量。
型号/规格:HG-EM
产品描述:光伏/科研通用两种应用选择 HG-EM激光椭偏仪是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪。可广泛应用于晶体硅太阳电池、薄膜...
型号/规格:FE-5000
产品描述:400波長以上的多频分光法,量測出椭圆偏光光谱。 自由变换反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析数据。 反射角度自动可变的测量方式,對薄膜测量有更高的分析...
Semilab – Sopra椭偏仪 GES5E 薄膜厚度、n值及k值的测量
型号/规格:Sopra GES5E102#$%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$法国
产品描述:仪器简介: 应用: ◆ 薄膜厚度、n值及k值的测量,可应用于任何薄膜生长或者镀膜工艺的监控。 技术参数: Sopra公司是世界上的椭偏仪设备供应...
型号/规格:HG-ES18#$衡工%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:HG-ES光谱椭偏仪是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。 HG-ES光谱椭偏仪用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数(如,...
产品描述:全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来,样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和性。已获得的自动样品对准...
型号/规格:ES0110#$ELLITOP %^11#$制造商%^134#$全新%^12#$北京
产品描述:ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。 ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄...
型号/规格:ES03 10#$ELLITOP %^11#$制造商%^134#$全新%^12#$
产品描述:ES03是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高多入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围从紫外到近红外。 ES03多入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层...
型号/规格:EMPro10#$ELLITOP%^11#$制造商%^134#$全新%^12#$北京
产品描述:EMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪。 EMPro可在单入射角度或多入射角度下进行高、高准确性测量。可用于测量单层或多层纳米...
型号/规格:EM1210#$ELLITOP %^11#$制造商%^134#$全新%^12#$北京
产品描述:EM12是采用量拓科技先进的测量技术,针对中端需求的研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12可在单入射角度或多入射角度下对样品进...
产品描述:多角度激光椭偏仪 产品型号:进口。 简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内测量度。 功能特点 多角度激光椭偏仪 SE400adva...
型号/规格:EM01-PV-III10#$赛凡光电%^11#$制造商%^134#$全新%^12#$北京
产品描述:新一代的太阳能电池测试专用激光椭偏仪,用于测量太阳电池表面减反膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数。融合多项技术,采用一体化样品台技术,兼容测量单晶...