型号/规格:HN45-NHT-63072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:技术参数: 工作条件 温度 -10~40℃ 相对湿度 5%~95%(非冷凝) 充电电源 187~242V 50Hz±1Hz 测量范 不透光度(N) (0~99.9)% 光吸收系数(k) (0~16...
型号/规格:TZH24-RTS-8690#$%^691#$%^692#$%^693#$%^694#$%^695#$
产品描述:四探针测试仪 (手动带软件) 型号:TZH24-RTS-8库号:M403790 RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理...
型号/规格:JKZC-ST4690#$%^691#$生产商%^692#$%^693#$%^694#$%^695#$
产品描述:JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1...
型号/规格:SZT-I3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:甩卖数字式四探针测试仪 型号:SZT-I 是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体...
型号/规格:SX1934D3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:SX1934D型数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称...
型号/规格:TRST-22533072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:TRST-2253 型数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量半导体材料的电阻率,测量扩散层的薄层电阻(亦称方阻)。换上特制...
型号/规格:TR-RTS-3 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:手持式四探针测试仪 TR-RTS-3 体积仅为:185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高); 重量:350g; 使用锂电池供电,充电可连续使用100小时;
型号/规格:SX1934 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:数字式四探针测试仪 SX1934 产品特点 仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用...
型号/规格:ST2258A3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:多功能数字式四探针测试仪 是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。
型号/规格:M-3型3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:有货手持式四探针测试仪 是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
型号/规格:TR-RTS-3 3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:手持式四探针测试仪甩卖 宽、高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计; 体积仅为:185
型号/规格:M-3型3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$
产品描述:M-3型销手持式四探针测试仪 是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
型号/规格:JZ-ST2253型50#$北京九州%^51#$制造商%^129#$全新%^624#$JZ-ST2253型%^52#$北京
产品描述:数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。
型号/规格:JZ-RTS8型18#$%^19#$制造商%^141#$全新%^638#$ JZ-RTS8型%^20#$北京
产品描述:数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测试半导体材...
型号/规格:JZ-218#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试
型号/规格:JZ-ST2253型18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入;具有零位、满...
型号/规格:JZ-ST2258A18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-...
型号/规格:JZ-RTS8型50#$九州空间%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京
产品描述:数显式四探针测试仪是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序,通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
型号/规格:JZ-RTS2/JZ-RTS2A型50#$九州空间%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京
产品描述:JZ-RTS2/JZ-RTS2A型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,...
型号/规格:JZ-RTS3型50#$九州空间%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京
产品描述:JZ-RTS3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,专用于测...