天瑞仪器xray镀层测厚仪

天瑞仪器xray镀层测厚仪器特点

1、镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟，分析高。

    天瑞仪器xray镀层测厚仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。

2、可测试超薄镀层，如：在测试镀金产品时，可测试0.01米的镀层厚度，这是其他测厚设备无法达到的。

     X荧光通过射线的方式来检测镀层的厚度，因此，其对样品的表面物质测试最为灵敏，因此，其非常适合测试超薄镀层，也是目前超薄镀层常用的测量方法。

3、可测试多镀层，分析远远高于其他测量方法。

X射线具有一定的穿透能力，因此，在测试镀层时，它可以穿透多层镀层，通过每层镀层产生的特征X射线计算其厚度，并可分析其镀层的组成。

4、天瑞仪器xray镀层测厚仪可分析合金镀层厚度和成分比,这是其他测厚设备不能做到的。   

5、对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况并可以对样品的复杂面进行测量。

    由于X荧光的无损分析方法，同时仪器高度的自动化控制技术，保证测试中可以进行连续多点测量，不但提高测试效率，同时可以分析测试样的厚度分布情况。

6、对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别，即，每层样品元素有明显的差别。

     由于X荧光是通过特征X射线，对被测样品进行厚度分析的，因此每层镀层的材料应有明显的区别。

7、不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过30微米。根据各种元素的能量不同，测量范围都不相同,如：

  原子序25~40，约0.01~30um原子序41~51，约0.02~70um,但是陶瓷上的涂层因为密度相对普通金属电镀工艺,密度会小,所以可以测试更厚,比如未烧结的MoMn涂层可以测试150微米以上.   

8、天瑞仪器xray镀层测厚仪可以对极小样品进行测试，例如：螺丝、电路板焊盘、接插件的插针等。可以将X射线照射在样品的光斑调到很小的地步（可以达到微米级，因此，超小样品的测试非常容易。

9、属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同的镀层标样，虽然有FP法的测试软件，但在精准测试中，一定需要标准样品进行校对，因此，企业应用中采用标样校对的方法是最常见的。

10、针对不同的镀层测试对象，可选择不同结构的X荧光分析仪器。例如：上照射和下照射的设备；探测器分为正比计数器和半导体探测器的等，他们都有各自的优缺点。

仪器特点:

 Think800A是专门针对镀层厚度测量、镀层元素种类及含量的快速无损分析的需求，特设计的一款产品；

 采用上照式结构，以满足不规则表面样品的测试要求；

 采用美国新型的Si-pin探测器，高分辨率探头使分析结果更加精准；

采用高度定位激光，可自动定位测试高度，以满足不同规格样品的镀层测试。同时定位激光精准定位光斑，以确保测试点与光斑对齐；

高移动平台可精准定位测试点，重复定位小于0.005mm；

内置φ0.1mm的小孔准直器，可以满足微小测试点的镀层测试；

多重防辐射泄露设计，具有良好的射线屏蔽作用； 

内置高移动平台，通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；

采用网口传输数据，数据传输稳定且快。

性能指标: 

元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

可同时分析最多24个元素，5层镀层；

分析检出限可达2 PPm，最薄可测试0.005um；

 分析含量一般为2 PPm到99.9%；   

镀层厚度一般为在50um以内（每种材料有所不同）；

任意多个可选择的分析和识别模型；

相互独立的基体效应校正模型；

多变量非线性回收程序；

多次测量重复性可达0.1%；

长期工作稳定性可达0.1%；

温度适应范围为15℃至30℃；

电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源）。

天瑞仪器xray镀层测厚仪配置                                                                            

Si-pin电制冷半导体探测器；                        

 X光管；                            

高低压电源；

开放式样品腔；

双激光定位装置；

高度传感器；

保护传感器；

 铅玻璃屏蔽罩；

 信号检测电子电路；

 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

 安装要求

环境温度要求：15℃-30℃；                        

环境相对湿度：<70%；                          

工作电源：交流220±5V；

周围不能有强电磁干扰。