XRF电镀层测厚仪

XAU-50A电镀层分析仪 x射线膜厚仪

XAU-50A电镀层分析仪 x射线膜厚仪搭载着75W高性能X射线管和SDD 70mm大面积探测器，符合“薄膜”、“合金膜”、“极微小部分测定”等镀膜厚度测定要求的高性能膜厚度测量仪。金属电镀镀层分析仪XAU-50A还在镀膜厚度测定功能的基础之上增加了异物定性和查资料成分分析的功能。

XAU-50A电镀层分析仪 x射线膜厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。X射线测厚仪/荧光测厚仪适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径为0.1mmΦ以下高强度的X射线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。

XAU-50A电镀层分析仪 x射线膜厚仪配备等同与XAU-50A的大型样品台，能够对大型线路板等样品进行整体排列测量对应

重复电镀层测厚仪 可测元素范围：氯(Cl)?–?铀(U)??原子序?17?–?92?。 
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1mm??0.05mm
自动种类大小:可选圆形0.1??0.2??0.3??0.4mm??方型0.05×0.4mm 
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机?综合性能:镀层分析??定性分析??定量分析??镀液分析 

XAU-50A电镀层分析仪 x射线膜厚仪 优点

a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元

b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没关系（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制样简单，固体、粉末、液体等都可以进行分析。
2、缺点

a）难于作分析，所以定量分析需要标样。

b）对轻元素的灵敏度要低一些。

c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。