XAU-50B X荧光光谱测厚仪

XAU-50B X荧光光谱测厚仪产品介绍

XAU-50B X荧光光谱测厚仪能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，X射线测厚仪XAU-50B您大大节省成本。

X射线镀层测厚仪的特征: 
1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。 
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

XAU-50B X荧光光谱测厚仪基本原理

X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，测厚仪，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。

   当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量低于吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。

为什么膜厚仪有时测量不准确?

人为因素。这种情况经常会发生在新用户的身上。膜厚仪之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要先掌握好测量方法。

XAU-50B X荧光光谱测厚仪 X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，电镀层厚度测试仪，欢迎来电咨询！

不同种类的测厚仪的应用

1、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，仪器从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

应用领域：

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

电镀液的金属阳离子检测

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪

应用领域：

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)电镀液的金属阳离子检测

在线测厚仪是干什么的

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。

 XAU-50B X荧光光谱测厚仪给我们的产品生产提供了很大的保障性，避免出现产品厚度不合格、废品等情况的出现，镀层测厚仪，为我们的盈利提供了非常大的保障作用。如有需要，可咨询美程仪器的客服或询问，可以了解下产品。