XTU-BL X荧光光谱仪 线路板镀金厚度分析仪

XTU-BL X荧光光谱仪性能优势：

    下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

    无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

    微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

    高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

    EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

XTU-BL X荧光光谱仪仪器规格：

    外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）

    样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）

    仪器重量 ：55kg

    供电电源 ：交流220±5V

    功率 ：330W

    环境温度：15℃-30℃

    环境相对湿度：<70%

XTU-BL X荧光光谱仪技术参数：    

XTU-BL X荧光光谱仪是一款专为印制线路板上镀层的厚度测量及分析而设计的入门级的耐用 X 射线荧光光谱仪

型号设计理念
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能，可以精 定位测量位置。外罩底部留下了空 隙，能更好地测量大面积的印制线路板。高分辨彩色摄像头，使得对准 测量位置更加准确、简便。仪器超大的测量室，使得测试大型工件品同样很方便。所有的仪器操作及测量数据的计算和报表的显示，都可以通过功能强大的 EFP-T 软件在电脑上完成

设计用途：能量色散型 X 荧光涂镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），用于涂镀层及材料成分分析的无损检测
测量元素范围：最多可同时测试从氯（17）到铀（92）中的 24 种元素
测量方式：由下往上，台式仪器，固定的样品平台，可向上开启测量门，也可直接从侧面放入 PCB 样品
仪器硬件：
光管：X 射线管带铍窗口的微聚焦加强型钨靶射线管高压：三档：30KV 、 40KV 、 50KV视准器（准直器）：4 个可选择准直器（任选 1 个）： 圆形?0.05mm;? 0.1mm;? 0.2mm;? 0.05×0.2mm
测量点尺寸：取决于测量距离和孔径大小，实际的量点大小与视频窗口中显示一致。测量面积：约 0.002mm2

测量距离：0-30mm(特殊要求可升级到 90mm) ，也可通过距离变化做能量损失补偿测试不同距离样品。

XTU-BL X荧光光谱仪应用领域:
1. 测量印制线路板（最至 660 x 660 mm）上的微小结构及组件
2. 测量电子及半导体工业中的功能性镀层
3. 测定电镀漕液中的成分浓度；比例接收器能实现高计数率，从而可以进行高测量。所有的 ELITE X-RAY 仪器具有出色的准确性和长期稳定性，能很好的减少校准仪器所需要的时间和精力。依靠先进的 EFP-T 软件算法，可以在没有校验标准片校正的情况下固、液体样品的涂镀层膜厚及成分。

 XTU-BL X荧光光谱仪设计理念

当需要测量大面积线路板及多层板时，XTU-BL 配置加长型样品平台，增加样品放置空间