- 新旧程度:全新
- 原产地:日本
奥林巴斯Olympus BX53IR红外显微镜
可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析,以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察。
IR物镜可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像。
精准的显微数字图象
(1) 自动标尺功能
由于物镜转盘位置信息可以传递给 cellSens 软件和 DP21,因此可以自动计算并提供标尺长度,便于测量目标
(2) 荧光激发方式的自动记忆功能
荧光镜组信息可以和图像信息一起被存储
(3) 观察方式自动匹配功能
通过结合电动装置,聚光镜内的光学部件可以根据不同物镜自动转换
低碳环保,低维护成本
高规格的环保低碳标准
我们在研发产品,提供服务的同时,也自觉贯彻环保理念,为我们生存环境的和谐与健康做出积极的贡献。
BX43/BX46/BX53是OLYMPUS的环保产品,在OLYMPUS特有的绿色环保标准下生产,符合国际标准ISO14021 II型环境标志规定。
(1) LED照明(20000小时),替代传统卤素灯,低耗能,高效率,免维护。
(2) BX53的ECO功能,保证人离开操作位置30分钟后,光源自动关闭,避免能源浪费。
(3) 所有光学部件采用无铅材料,避免对环境破坏和对使用者健康潜在威胁。
(4) 所有电子元器件采用无铅焊接,达到极高劳工保护标准。