LCR数字电桥：广泛的测量对象:无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本、20Hz—1MHz的频率范围及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的一切测量要求，特别有利于测量低D电容器和高Q电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40V直流偏置的高功率测试条件及列表扫描能力将有利于用户扩展元件评价的能力。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。

性能特点

■ 阻抗测量范围宽的自动平衡电桥技术

■ 四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合

■ 基本准确度0.05%

■ 达1MHz的测量频率范围

■ 交流测试信号可编程至20V(选件)

■ 达30次/秒的测量速度

■ 六位读数分辨率

■ 可测量22种阻抗参数组合

■ 30 Ω, 100 Ω可选信号源输出阻抗

■ 10点列表扫描测试功能

■ 曲线扫描分析功能

■ 内部可编程直流偏置±40V/100mA(选件)

■ 外置偏流源至40A

■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能

■ V、I测试信号电平监视功能

■ 20组内部仪器设定可供储存/读取

■ 内建比较器,10档分选及计数功能

■ RS232C,GPIB,HANDLER接口

■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)

■ USB接口供数据外存

■ 320×240点阵大型图形LCD显示

■ 中英文可选操作界面

技术参数

测试参数	\|Z\|,\|Y\|,C,L,X,B,R,G,D,Q,θ,ESR,Rp
测试频率	TH2828S	20Hz-1MHz,1mHz分辨率
测试电平范围	正常：5mV-2V,恒电平：10mV-1V,1mV 步进
输出阻抗	30Ω，100Ω可选
基本准确度	TH2828S	0.05%
	\|Z\|,R,X	0.00001Ω-99.9999MΩ
	\|Y\|,G,B	0.00001μS-99.9999S
	C	0.00001pF-9.99999F
	L	0.00001μH-99.9999kH
显示范围	D	0.00001-9.99999
	Q	0.01-99999.9
	θ(DEG)	-179.999°-179.999°
	θ(RAD)	-3.14159-3.14159
	△%	-999.999%-999.999%
测量时间（≥1kHz）	快速：32ms, 中速：90ms, 慢速：650ms
等效电路	串联，并联
量程方式	自动，保持
触发方式	内部，手动，外部,总线
平均次数	1-255
清零功能	开路，短路，扫频清零，负载
内部直流偏置源	0V,1.5V,2V
比较器功能	10档分选和档计数功能
存储器	可保存20组仪器设定值
接口	RS-232C,HANDLER(选件)，USB(选件)，GPIB(选件)