点针工作站手动分析探针台失效分析半导体测试元器件电性能测试
在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中，经常要量测内部的电参数，由于制成的越来越低，没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台近10年历史，销售实绩800多台，并且每年销量行业销量。行业客户有：友达光电、华映光电、奇美光电、群创光电、飞兆半导体、德州仪器、华虹集成、华为、电子五所、航天808所、航天201所、中科院微电子所、苏州中科院纳米研究所、复旦大学、上海交通大学、西安电子科技大学、温州大学、福州大学、厦门大学等等……
点针工作站手动分析探针台失效分析半导体测试元器件电性能测试
型号： PW-400
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学单位等
点针工作站手动分析探针台失效分析半导体测试元器件电性能测试
型号： PW-600/PW-800
规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
RF高频探针台
东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten
