询价
- 分析含量：ppm到99.9%
- 温度适应范围：15℃至30℃
- 电源：交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
- 分析范围：同时可以分析30种以上元素，五层镀层
- 移动平台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。镀层测厚仪采用磁性测厚方法，可无损伤检测磁性金属基体（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）。仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护必备的仪器。
镀层测厚仪的工作原理：
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等(在有关国家和国际标准中称为覆层(coating))。
公司被授予 “国家火炬计划重点高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。产品具有国际的技术水平，X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供解决方案。
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
