麦穗形态测量仪SYSMS-X-I仪简介:
麦穗形态测量仪SYSMS-X-I基于机器视觉技术,利用手机摄像头获取麦穗的图像,利用图像处理算法现场分析,获取麦穗形态参数。
麦穗形态测量仪SYSMS-X-I功能特点: 1. 测定,可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标 2. 测量的数据可通过无线网络传输至服务器 3. 可以在离体或活体情况下测量麦穗形态 4. 拍照即出结果,测量不受麦穗形状的影响 5. 自动调节白平衡,不受天气、光照等环境条件的影响 6. 超轻便手持式设计,方便田间测量使用 7. 32G存储容量,可同时存储数据和麦穗图像应用领域 应用于小麦育种 小麦遗传研究等领域。
麦穗形态测量仪SYSMS-X-I技术参数: 1. 测量长度:长16cm 2. 测量宽度:12cm 3. 测量误差: ≤5% 4. 图像分辨率:1280×720 5.工作时间:连续工作5h以上 6.工作温度:-30℃~50℃ 7.尺寸:22 × 15 × 0.8 cm 8.重量:425g