天瑞仪器Thick800A镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器，为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

天瑞仪器镀层测厚仪是基于X射线荧光技术所开发，可快速提供单层或多层分析，对合金成分进行定量分析，优化电镀液控制的金属离子含量分析。

800A镀层测厚仪

电镀层膜厚仪可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。电镀层膜厚仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。电镀层膜厚仪可测元素范围：
氯(CL) – 铀(U)
可测量厚度范围：
原子序22-25，0.1-0.8μm
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射线管：油冷,超微细对焦
高压：0-50KV(程控)
电脑系统：IBM相容,17”显示器
电镀层膜厚仪只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,电镀层膜厚仪更有镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业.

800A镀层测厚仪

X射线镀层测量仪的优点
采用国际上先进的、稳定性好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。

设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
快速多点校正法技术保证了系统的长期。
快速、连续、非接触测量、实时显示高测量值。
操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用新的JAVA 技术。
采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及。