- 价格：面议
- 测量范围：/
- 温度误差：/
- 温度范围：/
- 加热功率：/
- 冷却方式：/
- 电源：/
- 外形尺寸：/
一、电子智能门锁老化测试架概述：
电子智能门锁老化测试架适用于电子智能锁PCBA主板、成品指纹锁老化测试作带载老化测试。老化架负载和老化架控制器均采用MCU设计，整机操作简单快捷，性能稳定可靠，是老化电子智能门锁的理想选择。
二、电子智能门锁老化测试架测试功能：
1、每层控制板可以老化检测20路主板或者成品；
2、每块控制主板可以实时检测20路动态电流与静态电流，电流超出范围会有报警提示，严重超标后保护电路启动自动切断电源，老化完成后自动生成老化报表；
3、可以控制每块主板进入自动老化状态（需要客户按照要求在主板里面增加老化程序）；
4、可以储存每个产品设定参数标准，老化前选择好相应的机型就可以老化；
5、每块主板对应电源指示灯，供电正常指示灯点亮方便直观的看到电源的通断；
6、采用10.1寸高清显示屏（WINDOWS系统），运行内存4 GB；
7、老化系统设定电压浪涌功能，电源电压可以调节，输出5V与7.4V两种电压；
8、预留升级接口，方便客户升级（客户必须按照要求进入老化状态，否则无法控制）。
三、电子智能门锁老化测试架主要规格参数：
型号 | 电压范围 | 电流范围 | 功率 | 老化总数量 | 层数 | 每层老化数量 | 负载类型 |
GS-FETR140C | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 30W | 140个 | 7 | 20个 | CC/CV |
GS-FETR140D | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 30W | 140个 | 7 | 20个 | CC/CV |
GS-FETR196A | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 75W | 196个 | 7 | 28个 | CC/CV |
GS-FETR140B | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 75W | 196个 | 7 | 28个 | CC/CV |
GS-FETR112A | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 150W | 112个 | 7 | 16个 | CC/CV |
GS-FETR112B | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 150W | 112个 | 7 | 16个 | CC/CV |
GS-FETR70C | DC：0～5V | DC:0.1～3A | 300W | 70个 | 7 | 10个 | CC/CV |
GS-FETR70D | DC:0～10V | DC:0.1～5A | 300W | 70个 | 7 | 10个 | CC/CV |
