偏振光光学实验装置 型号:RLE-ME03
实验简介
物理光学是光学与光学工程的主要理论基础,本实验以光的波动性为主要研究对象,从电磁波理论和傅里叶分析两个角度,研究光的传播、干涉、衍射、偏振等性质。RealLight?应用新一代空间光调制器(SLM),从波的叠加原理出发研究光的干涉规律,讨论光的相干性;围绕衍射阐述光的波动性,运用SLM模拟二元光学元件,从实际出发研究光的衍射;研究光在晶体中的传播特性和偏振元件对光的作用。本实验是紧贴光电《工程光学》等相关课程的配套实验。
实验内容
1、杨氏双缝干涉实验;
2、马赫-曾德干涉实验;
3、菲涅尔衍射实验(圆孔、矩孔、三角形、多边形孔);
4、夫琅禾费衍射实验(圆孔、矩孔、三角形、多边形孔);
5、衍射光学元件(DOE)设计;偏振光光学实验装置
6、偏振光产生与检验(线偏振、圆偏振、椭圆偏振)
7、马吕斯定律验证实验;
8、波片与偏振光实验(左旋偏振光、右旋偏振光)
9、偏振干涉实验(波片的快轴、慢轴)
偏振光光学实验装置
偏振光光学实验装置
产品名称:杂质浓度测试仪 产品型号: KDB-1A |
产品简介
原理:根据硅、锗单晶的迁移率、电阻率和杂质浓度的关系,可直接测量、计算出晶体内的杂质浓度。
适用范围:它适合于测量横截面尺寸是可测量的,而且棒的长度大于横截面线度的有规则的长棒,例如横断面为圆形、正方形、长方形或梯形的单晶或多晶锭。
用途:根据测量沿锭长杂质浓度的分布状况决定产品的合格部分,通过杂质浓度的直接测量,决定晶体生长过程中的掺杂数量。
样品可在常温或低温下测量。
显示方式:仪器连接PC机,通过专用测试软件计算,用对数坐标的方式来显示杂质浓度(含次方数)沿锭长的分布曲线,可对曲线图进行打印和保存。
测量范围: 可测晶体电阻率:0.005-3000Ω·cm。
直流数字电压表测量范围:0-199.99mV,灵敏度:10μA。
产品名称:面粉溴酸钾快速检测仪 产品型号: GDYQ-110SU |
面粉溴酸钾快速检测仪型号:GDYQ-110SU
应用领域:
● 适用于面粉中溴酸钾的快速定量测定。
仪器特点:
● 仪器构成:检测仪由主机、样品前处理装置和试剂包等构成,整箱包装,仪器体积小、重量轻,操作简单,适于野外现场及实验室使用。
● 光路系统: 采用固体发光器件既作光源又作单色器,光源/单色器、比色槽、传感器一体化,无可动部件,脉冲供电方式,光源使用寿命达10万小时,与传统分光系统相比,光学系统机构简单,增强仪器抗震、抗潮性能,大大提高了仪器的、灵敏度和可靠性。
● 内置曲线:仪器具有内置工作曲线,无需配制标准溶液,只需要用配套试剂进行零点校正后,即可实现样品的快速定量测定。
● 测量方式: 样品显色和测量为同一密闭器皿(圆柱形),无需转移,提高检测。
● 专用试剂盒:通过专用的预制试剂,大大缩短试剂配制时间,操作简单,使用方便。加入专用试剂包显色后,仅需零点校正即可实现被测物的测定。
● 供电方式:采用9V电池供电,满足实验室测定需要可支持现场测定,同时具有电量自诊断和节能功能,自动提示电量不足,仪器不使用后30分钟自动关机。
● 耗材配件: 提供完备的专用前处理设备和耗材,一站式服务。
● 光源: 高亮发光二管
● 波长:538 nm
● 测定下限:5.0 mg/kg
● 测量范围:
5.0~100.0 mg/kg
● 测量: ±10%
● 电源要求: DC 9V
● 尺寸:190x110x95 mm
● 重量:0.4 kg● 样品前处理器具1套
● 试剂1套(50次)