美国AMPTEK辐射监控器
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产品范围：美国AMPTEK辐射监控器
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品牌介绍：美国AMPTEK辐射监控器
AMPTEK是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造核检测仪表，在该领域处于水平。公司建立之初是为现阶段的空间仪表提供高性能、高稳定性、体积小以及低功耗的仪器和部件。随后，公司的混合前置放大器成为航天工业的配置标准，并在范围内用于地表卫星和外层空间探测器。AMPTEK已经开发出一系列产品如等离子分析器、电子离子探测器以及辐射监控器等。AMPTEK公司产品广泛用于人造卫星、X射线和伽玛射线的探测、实验室、分析仪以及工业上的便携式检测仪器。
美国AMPTEK辐射监控器
主要型号：
XR-100CR Si-Pin、X-123 Si-Pin、XR-100SDD、X-123SDD、PA-210、PA-230、TB-5、DP5、DP5G、PX5、PX5-HPGe、MCA-8000D、A250、A225、A203、A121、A111、A101、A275、A206、A150、BLR1、PH300、A121、A101、A275、A206、A105
技术资料：
XR-100SDD 系列X 射线硅漂移探头：
XR-100SDD 系列产品由新型高性能 X 射线硅漂移探头，前置放大器（前放）和致冷系统组成。采用热电致冷技术保持硅漂移探头(SDD)的低温工作环境，而在两级热电致冷器上 亦安装了输入场效应管(FET)和新型温度反馈控制电路，这样探头组件的温度保持在约零下 55 摄氏度左右，并通过组件上的温度传感器显示实时温度。探头采用 TO-8 封装，并利用不 透光和不透气（真空封装适用）的薄铍(Be)窗以实现封装后的软 X 射线探测。XR-100SDD 系列产品无需采用昂贵的低温制冷系统即可获得非常优越的性能，它标志着 X 射线探测器生产技术上的一个突破。
产品特性：
1. 高计数率：500,000 CPS(每秒计数, counts per second)；
2. 能量分辨率：125eV（半高全宽，FWHM，对应峰值为 5.9keV 的情况）；
3. 高峰本比（Peak-to-background ratio）：8200:1； 4. 面积 25mm2，厚度 500μm；
5. 内置多层准直器；
6. 不需要液氮制冷。
应用范围：
1. X 射线荧光分析；
2. 用于 RoHS/WEEE 标准检测的 X 射线荧光谱仪；
3. OEM 和其他应用；
4. 生产工艺流程反馈控制；
5. 高校和科研院所实验室研究；
XR-100SDD 型硅漂移探测器：
XR-100SDD 型硅漂移探测器（SDD）是 Amptek 公司出品的一款新型 X 射线探测器，它标志着 X 射线探测器生产工艺的变革。XR-100SDD 因其体积小，性能优越且价格便宜等特点，是 OEM 手持式和台式X射线荧光谱仪设备的理想选择；而且它在保证优异的能量分辨的同时还能达到相当高的计数率，可以满足各种参数需求；另外封装采用和Amptek 出品的 其他探测器一样的T0-8 型外壳，方便用户升级现有系统以及和其他Amptek 产品配套。
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