Microsemi相位噪声测试仪5125A

5125A 400MHz 相噪短稳分析仪

        Microsemi（并购了Symmetricom公司） 5125A 能地测量1~400MHz待测信号相噪，几乎覆盖所有常用参考源的频率范围。5125A完全无需配置,一键“start”完成测试操作，同步显示测试结果。

        Microsemi（并购了Symmetricom公司）,作为的高性能频率标准源提供商，全数字化的相噪分析仪，已研发至了第三代5125A，满足绝大多数的测量需求。5125A业界的相噪性能表现，达到-140dBc/Hz @1Hz频偏(10MHz)，使其成为分析超低相噪频率源的选择，如在雷达及卫星通讯中使用到的频率源。

        5125A采用了全数字化架构。此架构应用先进、高速低噪声的AD模数转换器，无需锁相环即可进行测量。为用户提供了多种便利，首先，可以更为准确地分析定性输入载波，接近0.1mHz载波；再者，可以同时进行短期稳底度的评估分析；后，犹其重要的是，用户无需要在每次测量时进行校准。

        在测量相噪的同时，5125A还可进行其它多项测量，令用户更全面地分析定性被测设备的特性。

        Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司的第三代全数字相位噪声和频率稳定度测试工具5125A,誉为标准的阿伦方差测试设备。连续测量频率稳定度超过300天；频率及相位信息实时更新图表；频率计数器更可显示13位/秒。

树立时间频率测量传统

        超过25年在美国国家标准及技术研究所(NIST)及本身工业生产的研究，Microsemi（并购了Symmetricom公司）的相噪测试成熟发展。

        进行RF波形取样及交叉相关，从而轻松地进行高性能时频标准源的分析定性。

        5125A基于Microsemi（并购了Symmetricom公司）突破型产品5120A的丰富经验，将测量范围进一步扩展至400MHz。

快速启动并完成测量

        由于5125A内部的创新架构，用户无需进行设置、计量，即在可几秒钟内开始相噪测量。

全数字测试设备的优势相位噪声测试仪

        5125A融合了的定时技术，是包含Microsemi（并购了Symmetricom公司）公司相位测量运算法则的先进测量设备。如5125A结构框图，DUT和参考源信号进入5125A，即刻被模数转换电路转换成数字信号。相位噪声测试仪

        这使5125A在无外部锁相环的情况下，仍能进行精准的测量，即自动校准测量。另外，全数字5125A不要求参考源频率必须和DUT频率相同。相位噪声测试仪

互相关的益处相位噪声测试仪

        5125A 结构框图中并行的上行和下行通路，说明了该设备的互相关技术。在完成并行同步测量之后，5125A对两通道的离散傅立叶变换进行互相关，用于评估输入设备的噪声并抑制两测量子系统的独立噪声。这使得终测试的噪底结果比单通道设备更加精准。