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E8-SPR镀层测厚仪
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E8-SPR镀层测厚仪

产品价格:
电议
产品型号:
E8-SPR
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
代理商
企业名称:
深圳市时代华南仪器有限公司
所属地区:
广东省深圳市
发布时间:
2017/3/31 15:55:14

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E8-SPR镀层测厚仪器的镀层测厚仪器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),与普通EDXRF相比,分辨率高,其光路系统集合国内外几十年EDXRF技术,部件采用美国进口,E8-SPR镀层测厚仪器软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构;E8-SPR采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据更,更稳定。

外形特点:

仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。

上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。

表面采用汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。

可视化样品窗。

辐射防护:

样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

辐射标志警示。

迷宫式结构,防止射线泄漏。

安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

硬件技术:

 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。

模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。

空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。

电路系统符合EMC、FCC测试标准。

技术快拆样品盘,更换薄膜更 软件技术:

分析元素:Na~U之间元素。

分析时间:60秒。

配置RoHS检测分析模型,无卤分析 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易可配置镀层测厚模型、玩具指令等模型。

HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。

HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。

 

硬件配置:

探测器

类型:X123探测器(采用原装进口高性能电致冷半导体探测器)

Be窗厚度:1mil

晶体面积:25mm2

分辨率:145eV

信号处理系统DP5

X射线管

电    压 :0~50kV

电流 :2.0mA

功率 :50W

靶    材 :Mo

Be窗厚度 :0.2mm

使用寿命 :大于2万小时

高压电源

输出电压:0~50kV

灯丝电流:0~2mA

功率:50W

纹波系数:0.1%(p-p 8小时稳定性:0.05%

摄像头

微焦距

500万像素

准直器、滤光片

快拆卸准直器、滤光片系统

多种材质准直器

光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

多种滤光片、准直器组合,软件自动切换

其他配件

进口高性能开关电源

进口低噪声、大风量风扇

产品规格:

外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)

样品仓尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (长x宽x高)

仪器重量   :33.5kg

供电电源 :AC220V/ 50Hz

功率 :330W

工作温度 :15-30℃


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