SR-750超高分辨率光谱仪
结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供的系统解决方案。
超高分辨率光谱仪主要特点：
l 分辨率可达0.02nm
l 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测
l 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级
l 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求
l 多样化的附件选择
l 支持单点探测器，波长可达12um
l 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能
SR-750
超高分辨率光谱仪技术参数指标：
型号 | SR750 |
焦距长度 | 500mm |
通光孔径（F/#） | F/9.7 |
焦平面尺寸 | 28mm×14mm |
波长 | 0.03nm |
光谱分辨率 | 0.02nm@2400l/mm, 300nm 0.04nm@1200l/mm,500nm |
波长重复 | 10pm |
杂光抑制比 | 2.6×10-5 |
光栅尺寸 | 68mm×68mm |
配置选项：
SR-750-A | 1个狭缝输入口，1个CCD输出口 |
SR-750-A-SIL | 1个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项 |
SR-750-B1 | 1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口 |
SR-750-B1-SIL | 1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项 |
SR-750-B2 | 1个狭缝输入口，2个CCD输出口 |
SR-750-B2-SIL | 1个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项 |
SR-750-C | 2个狭缝输入口，1个CCD输出口 |
SR-750-C-SIL | 2个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项 |
SR-750-D1 | 2个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口 |
SR-750-D1-SIL | 2个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项 |
SR-750-D2 | 2个狭缝输入口，2个CCD输出口 |
SR-5750-D2-SIL | 2个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项 |
附件选项：
光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚
光栅效率曲线
150l/mm效率曲线 300l/mm效率曲线
