- 企业类型:制造商
- 新旧程度:全新
- 原产地:东莞市赛思检测设备有限公司
温度冲击筛选试验箱可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件或相关行业的实验部门提供一个模拟环境,为测试数据的准确性和一致性(可重复)提供必备条件。该产品具有简单的操作性能和可靠的设备性能,先进便捷操作的计测装置,结构一体化程度高,科学的空气流通设计,使室内温湿度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生的安全隐患,保证设备的长期可靠性。
温度冲击筛选试验箱东莞市赛思检测设备简称SETH赛思从事环境试验检测仪器研究开发与生产、销售的公司。设备先进,检测仪器设备齐全,拥有一流的技术人才和管理人才,使公司产品在同行中始终处于。产品已广泛应用于科研、电工、电子、军事、航空、船舶、邮电通信、汽车、摩托车等企事业单位,提供GB、IEC、DIN等标准相对应的技术参数制作各类可靠性环境试验设备。
温度冲击筛选试验箱技术参数:
30℃/min→ 电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验;
28℃/min→ LED汽车照明灯;
25℃/min→ PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应;
24℃/min→ 光纤连接头;
20℃/min→ IPC-9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命;
型号 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
内箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
温度范围 | -80.00℃~+200.00℃ | |||
低温冲击范围 | -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃ | |||
高温冲击范围 | +60.00℃~+150.00℃ | |||
时间设定范围 | 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment | |||
温度波动度 | ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示) | |||
温度偏差 | ≤±2℃(-65℃~+150℃) | |||
温度均匀度 | <2.00℃以内 | |||
温变速率(斜率) | +5℃~+30℃/min(+40℃) | |||
温变范围 | -55℃~+85℃//+125℃ |