- 企业类型:制造商
- 新旧程度:全新
- 原产地:江苏省苏州昆山市中华园西路1888号
- 测试平台:精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
- 探测器:Si-Pin探测器
- 工作原理:利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器
- 准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器
- 温度要求:15℃至30℃。
- 电源:交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源
- 外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
产品介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司生产的高X荧光测厚仪针对金属镀层厚度进行检测,通常电镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铬、镀银、镀铑、镀钯等金属镀层厚度,测试高,中文(或英文)操作软件使操作更简单方便,客户只需简单培训既可上岗操作,同时性价比非常高。
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
高X荧光测厚仪任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高移动平台可定位测试点,重复定位小于0.005mm
高X荧光测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
标准配置
开放式样品腔。
高X荧光测厚仪精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
高X荧光测厚仪主要应用在电子电器、PCB线路板、胶粘制品镀层、五金卫浴、电子连机器、端子、紧固件、高压开关等生产企业中,产品得到了客户的广泛应用和认可。