惠普HP-4352B/VCO/PLL信号分析仪

惠普HP-4352B信号分析仪

4352B VCO/PLL信号测试系统提供全面的VCO/PLL评测能力，能满足元件研发和制造的测试要求。

特性

由于能简单容易地连接多项测量，因而能快速和容易地评测

优异的VCO相噪测量能力，具有极低噪声的集成直流源

对PLL合成器的全面频率瞬变测量

可用您自己的信号发生器配置

4352B的测试系统可以评估的VCO和PLL中是必不可少的设计在RF无线eommmfication设备中使用的本地振荡器的特性。该系统可为生产线测试实验室功能强大的分析能力，设计评估和高速测量，优点与能力2种操作模式，“信号Aualyzer”和“VCO测试”模式。 惠普的HP 43525，其中CON sists由HP 4352B 4352B控制VCO / PLL的信号分析仪和惠普低噪声信号发生器，占地面积高达3 GHz，并且可以测量主VCO / PLL的评价parstarlets，RF功率，频率，相位噪声，频谱，频率瞬间，直流电流消耗和FM偏差。 此外，HP 4352B提供，并控制直流电源，低噪声的直流控制电压源和所需的VCO调谐表征升千赫信号源，该系统可以使高速测量由于到专用固件和“载体锁多模式锁相环”技术为相位噪声测量，使对所测量的自动信号的载波的系统锁定。 此外，HP 4352B具有优异的相位噪声性能如-157 dBc的/赫兹在I MHz偏移典型地，使得该测试系统可以使可靠滑动，可重复的相位噪声测量，可达10 Iiilies减少测量时间。其实它可以测量801个测量点为100 Hz至10 MHz的7.4秒/扫描偏移。并加入了HP 71707A微波Downconver器扩展其fscquency范围高达26 GHz的。除了powerlxtl相位噪声测量功能，惠普43525可以测量瞬时频率为50 Hz的频率分辨率和12.5微秒ttine分辨率。惠普43525可显着提高的VCO，我会评估效率和测试效率。