- 品牌/商标:九州空间
- 企业类型:制造商
- 新旧程度:全新
- 原产地:北京
- 单晶少子寿命测试仪:测试单晶电阻率范围\t >2Ω.cm
- 单晶少子寿命测定仪:可测单晶少子寿命范围\t 5μS~7000μS
- 单晶少子寿命速测仪:配备光源类型\t 波长:1.09μm;余辉<1 μS;
JZ-LT2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。 | ||||||||||||||||||||||||
本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
技 术 指 标 : | ||||||||||||||||||||||||
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