- 可测元素:Ti~U
- 样品观察:CCD摄像头
- 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
- 检测器:正比计数管
- 测定软件:薄膜FP法、检量线法
- 移动高度:Z轴程控移动高度 20mm
- X射线管:管电压50KV,管电流1mA
- 测试系统:X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
- X\\\\\\\/Y\\\\\\\/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探测器:分辨率低至135eV
- 样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
- 同时检测元素:最多24个元素,多达五层镀层
- 检出限:可达2ppm,最薄可测试0.005μm
- 镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
- SDD探测器:分辨率低至135eV
- 准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 Ф0.3mm四种准直器组合
xrf合金材质分析仪
产品介绍
xrf合金材质分析仪是一款无损、快速、准确分析合金材质成份及牌号的仪器,根据其使用场合不同大致可以分为便携式xrf合金材质分析仪和台式xrf合金材质分析仪,便携式主要应用于企业来料检测,严格控制材料品质,避免造成加工后客户退货;同时在大的企业仓库容易出现合金的混料,便携式xrf合金材质分析仪能快速分拣出来,避免不必要的损失,台式xrf合金材质分析仪主要应用于实验室中,相对于便携式的仪器来说,台式的合金材质分析仪更稳定,测试更高。
性能指标
便携式xrf合金材质分析仪
检测元素:可同时分析40个元素
性:合金专用版分析软件,采用智能一键测试
检测对象:固体、液体、粉末
探测器:SDD探测器及Fast-SDD探测器(可选)
探测器分辨率:到128eV
激发源:50KV/200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:-20℃~+50℃
仪器外形尺寸:244mm(长)x 90mm(宽)x 330mm(高)
超低的检出限使便携式xrf合金材质分析仪的性能媲美台式机;仪器体积小,重量轻,可随身携带进行测量,适用于各类型合金样品的分析。
可准确检测各种贵金属合金、高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金、铜合金、青铜、锌合金、钨合金等,无损检测,1秒钟即可知晓材料的成份及合号(304、316、201等)。还可对铝、镁轻合号进行快速鉴定,并可对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认,掌控材料品质。
台式xrf合金材质分析仪
同时具有合金测试、合号分析、有害元素分析,土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等,形态为固体、液体、粉末等。
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
同时分析元素:性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
能量分辨率为:(140±5)eV
管压:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
样品腔体积:Φ320mm×100mm
重量:65Kg