仪器特点：
1.采用美国NITAR 0.7-4.5X，同轴共焦的光学设计变焦镜头，配上专为光学测量而设计的SONY 1/2″CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰地显现，轮廓层次分明，无误，高质素镜头；2.X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的的光学尺测量系统，X/Y轴的量测精密度（3+L/200）um；3.强大的8段LED环形冷光源，可根据工件所需的照明条件进行光线调节；4.可通过工作台上的快速释放开关在粗动和微动之间进行切换；5.工作台铸铁采用天然失效处理，配合瑞士SCHNEEBERGER导轨，具有；6.完善的自动寻边界及去毛刺功能，减少人为误差，测量效率；7.测量数据可输出到DXF\\BMP\\Excel\\Word文档，图形可输出到CAD；8.可视化编程，用户可根据导入的DXF文件进行编程，适用于批量检测；9.图文并茂的报表输出功能，用户可以轻松的输出检测结果；10.可升级Z轴非接触测量高度、深度、平面度。参数介绍:
| 仪器型号 | QI-A2010 | QI-A3020 | QI-A4030 |
| QI-B2010 | QI-B3020 | QI-B4030 | |
| X/Y/Z测量行程 | 200*100*150mm（调焦） | 300*200*200mm（调焦） | 400*300*250mm（调焦） |
| 外形尺寸 | 1000*600*1400mm | 1200*720*1600mm | 1200*720*1600mm |
| 载物台承重 | 15KG | ||
| 光栅尺分辩率 | 0.001mm（可选0.0001mm） | ||
| 线性 | (3+L/200)um，L=测量长度（单位：mm） | ||
| 重复性 | 2um | ||
| 镜头系统QI-A | 桂林光学多段倍率同轴共焦光学设计镜头 | ||
| 镜头系统QI-B | 美国NITAR多段倍率同轴共焦光学设计镜头 | ||
| 影像系统QI-A | 高解析度台湾MINTORN 1/2″彩色摄像机 | ||
| 影像系统QI-B | 高解析度日本SONY 1/2″彩色摄像机 | ||
| 放大倍率 | 光学放大倍率0.7-4.5X，影像放大倍率19－180X | ||
| 操作方式 | 手动 | ||
| 仪器重量 | 100KG | 120KG | 200KG |
