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金埃谱GappV-Sorb4800活性炭比表面测量仪、比表面测定仪
金埃谱GappV-Sorb4800活性炭比表面测量仪、比表面测定仪
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金埃谱GappV-Sorb4800活性炭比表面测量仪、比表面测定仪

产品价格:
电议
产品型号:
V-Sorb4800
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
北京金埃谱科技有限公司
所属地区:
发布时间:
2013/1/10 9:40:50

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任伟冬(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

北京金埃谱科技有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

主营产品:全自动比表面检测仪,BET法比表面仪,比表面积测试仪,比表面检测仪,比表面积测量仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,比表面测定仪,比表面测试仪,比表面积分析仪,孔容积测定仪

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产品品牌:
金埃谱Gapp
产品型号:
V-Sorb4800

本公司供应金埃谱GappV-Sorb4800活性炭比表面测量仪、比表面测定仪质量保证,欢迎咨询洽谈。

全自动智能比表面积仪及中孔微孔分布测试仪,BET法比表面仪,比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪产品介绍:V-Sorb 4800 Series系列产品是我公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。相比国内同类产品,多项技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品。我们的产品设计更多从用户使用的角度出发,使V-Sorb 4800 Series产品具备了完全的自动化操作,操作界面人性化,简单易学;通过采用合资或进口零配件,大大提高了产品可靠性和使用寿命。产品整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序,确保产品更加符合用户实际需求,同时V-Sorb 4800 Series系列产品的高性价比有效保障了用户的投资利益,灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求。 BET法比表面仪,比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪产品技术参数介绍:  比表面检测仪测试方法:氮吸附静态容量法
比表面仪主机功能:吸附及脱附等温线测定;样品真密度测定;BJH介孔分析-总孔体积及孔径分布分析;Langmuir法比表面积测定;BET法比表面积测定(单点及多点);t-plot图法外比表面积测定;
比表面分析仪测量范围:0.01(m2/g)--至无上限(比表面积)  0.35nm-400nm(中孔或介孔)
测量:重复性误差小于1.5%
真空系统:V-Sorb的集装式真空系统及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命。
比表面测量仪液位控制:V-Sorb的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差。
测量模式:“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式完美结合,灵活切换,满足不同特性样品测试需求;
标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间;
比表面及孔径检测仪控制系统:采用V-Sorb可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命。
样品数量:同时进行4个样品分析测试
压力测量:采用原装进口高压力传感器,显著提高 P/Po点测试
压力:进口硅薄膜压力传感器,达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15%)
比表面及孔径分析仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995
极限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
真 空 泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等
比表面积检测仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)
数据采集: 高及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强。
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。
售后保障: 企业法人营业执照注册资本100万以上(含100万);送货上门,技术人员上门安装、调试及使用培训;提供软件升级
仪器规格: 尺寸:长70×宽70×高85(CM);重量:60公斤;电压:交流220V;电流:5A
其他配置: 40升高纯氮气(含气瓶)一瓶;测试电脑一套;打印机一台 氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪,孔径测量仪,孔径分布测定仪,孔隙度分析仪,介孔微孔分布分析仪,孔容积分析仪产品特点:
A.比表面及孔径检测仪真空系统
1)的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大降低漏气率,提高极限真空度。
2)模块化结构设计,一体式集装管路,需人工进行连接的部件少,有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展,有利于维修更换。
3)采用德国进口的真空泵,噪音小,运行稳定,防油返功能卓越,极限真空度高,可达4x10-2Pa (3x10-4Torr)

B.比表面测量仪的控制系统
1)采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统,抗干扰能力强,稳定性大大提高,安装及拆卸都非常方便;
2)独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构,有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。

C.提高测试措施
1)采用与同类进口产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器,压力测量为相应读数的0.15%,远远优于0.15%的全量程(FS)传感器;
2)与国外同类产品类似,采用两个0-10Torr和两个0-1000Torr四压力传感器,对测试范围内的压力采用分段测量,大大降低了低真空下的测量误差,0-10Torr的硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15%);
3)的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;
4)的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。

D.比表面测试仪的数据采集及处理
1)采用高及高集成度数据采集模块,连接方便,误差小,抗干扰能力;采用业界标准的485通讯模式,有利于设备扩展和互连,可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式;
2)多种理论计算模型数据分析,为用户提供全方位的材料分析方案;强大的测试数据归档保存,查询系统,有利于用户数据管理。

 

联系方式

北京金埃谱科技有限公司

联系人:
任伟冬
传真:
86-010-82118197
类型:
工厂
地址:
北京市海淀区知春路56号中国天利大厦6层

服务热线

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