四探针电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件）  型号：DP-KDY-1

四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、四探针电阻率/方阻测试仪主机技术能数
（1）测量范围：
可测电阻率：0.0001～19000Ω?cm
可测方块电阻：0.001～1900Ω?□
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流：各档均低于±0.05%
（3）直流数字电压表：
测量范围：0～199.99mV
灵敏度：10μV
基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）
输出电源：≥1000ΩM
（4）供电电源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用环境：
温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%
无较强的电场干扰，无强光直接照射
（6）重量、体积：
主机重量：7.5kg
体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×高度）

备注：
等级测量时（测电阻率），<3%
电气测量时（测电阻），在0.3%以内

备注：
仪器包括：主机一台；测试架（包括台面）一个；四探针头1个；软件

低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪  型号;DP-KDY-1

仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
（2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米
方块电阻10-4～10+4欧姆/□，小分辨率为10-4欧姆/□
（3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜

可测量的半导体尺寸：直径≥8㎜
（4）测量方式：平面测量。
（5）电压表：双数字电压表，可同时观察电流、电压变化
A.量程0~19.999 mV
B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)
C.灵敏度：1uV
D输入阻抗﹥1000MΩ
E 4 1/2位数字显示，0～19999
（6）恒流源：
A.电流输出：直流电流0.003～100 mA连续可调，有交流电源供给
B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五档

 C.恒流源：各档均≤±0.05%
（7）四探针测试探头
A.探头间距1.59㎜
B.探针机械游率：±0.3%
C.探针直径0.8㎜
D.探针材料：碳化钨，探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。
（8）测试架：（选配）
手动测试架：KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。
（9）
电器：1-1000欧姆≤0.3 %
整机测量：1-100欧姆·厘米≤3%
（10）电流：220V±10%，50HZ，功率消耗﹤35W

注：如果测金属粉末电阻率必把样品压成块或片才能测

便携式电阻测定仪/便携式电阻率测试仪  型号：DP-KDY-1A

DP-KDY-1A便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
   本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。
   它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。
   为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分先材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω#8226cm标准样片的测量瓿差不超过±，在此范围内达到国家标准机的水平。
2、 DP-KDY-1A便携式电阻测度仪主要技术指标
（1）测量范围：
可测量  电阻率：0.01～199.9Ω#8226cm。
可测方块电阻：0.1～1999Ω/口
        当被测材料电阻率≥200Ω#8226cm数字表显示0.00。
（2）恒流源：
      输出电流：DC  0.1mA～10mA分两档
      10mA量程：0.1～1mA  连续可调
      10mA量程：1mA ～10mA连续可调
      恒流：各档均优于±0.1
（3） 直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μv
准确度：0.2（±2个字）
（4） 供电电源：
AC：220V   ±10     50/60HZ    功率8W
（5） 使用环境：
相对湿度≤80
（6） 重量、体积
重量：2.2 公斤
体积：宽210×高100×深240（mm）

便携式电阻测试仪/便携式电阻率仪/便携式电阻率/方阻测试仪　型号：DP-KDY-1B

便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

   本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。

   它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。

   为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不超过±5%，在此范围内达到国家标准二级机的水平。

 2、测试仪结构及原理

测试主机由主机板、前面板、后背板及机箱组成，数字表、测试电流换档开关、电阻率/方阻转换开关、校准/测量变换开关以及电流调节电位器均装在前面板上。后背板上只装有电源插座、电源开关、保险管及四探针连接插座。机箱底板上字装了主机板。前后面板与主机板之间的联接均采用接插件，便于拆卸维修。

便携式电阻测试仪/便携式电阻率仪技术参数：

测量范围：

可测量电阻率：0.1～1999Ω·cm。

可测方块电阻： 1～19990Ω/□

        当被测材料电阻率≥1999Ω·cm数字表显示0.00。

（2）恒流源：

      输出电流：DC  0.01mA～1mA分两档

      0.1mA量程：0.01～1mA  连续可调

      1mA量程：0.1mA ～1mA连续可调

      恒流：各档均优于±0.1%

（1）  直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μv

准确度：0.2%（±2个字）

（2）  供电电源：

AC：220V   ±10%     50/60HZ    功率8W

（3）  使用环境：

相对湿度≤80%

（4）  重量、体积

重量：2.2 公斤

体积：宽210×高100×深240（mm）

方阻计/电阻测试仪/方阻仪  型号：DP-DMR-1C

DP-DMR-1C型方阻计是一种专用于测量塑料薄膜金属镀层方块电阻的仪器。由于方阻与镀层厚度成反比，也就可以由方阻计算出镀层厚度。仪器配有专用的、带弹簧的四探针探头。由于探针带弹簧，使得测试时压力恒定，接触可靠，测试稳定，寿命也长。

1、测量范围：1mΩ-2000Ω分为四个量程

其满度值为:	1999mΩ	19.99Ω	199.9Ω	1999Ω	19.99KΩ
分辨率：	1mΩ	10mΩ	100mΩ	1Ω	10Ω
测试电流	100mA	10mA	1mA	0.1mA	0.01mA

2、基本误差：△=±2%

2、1  仪器的基本误差±0.1%±2个字

2、2  2000mΩ档为△=±0.2%±2个字

3、工作环境：温度5℃-40℃，湿度20%-80%RH

4、电 源：220V±10%，50/60Hz，3VA

5、外形尺寸：宽200×高80×深200（mm）,重1.5kg

注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的