| 类型 | 光学显微镜 | 品牌 | 英国VISION |
| 型号 | Hawk 5000 | 仪器放大倍数 | x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
| 物镜放大倍数 | x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 | 重量 | 35kg（g） |
| 适用范围 | 光学视频测量 | 装箱数 | 1 |
Hawk 5000光学测量显微镜 - 综述
英国工业显微镜有限公司的Hawk 5000非接触式测量显微镜适用于使用者对测量和质量控制工序有着严格要求。
Hawk的QC-5000提供对各种材料加工的复杂元器件的三维测量和可重复的高。从简单的手动测量到采用的数据导入、导出和分析的多功能建模，Hawk的QC-5000具有强劲的、灵活的解决方案，能满足苛刻严格的测量要求。
与其他高端测量系统区别之处是，Hawk提供真实的光学成像，测量的卓越和可重复性。
通过运用高反差对比、高分辨光学成像、以及用于简捷测量的强化表面清晰度，可获得对复杂元器件的测量。黑色在黑背景？白色在白背景？在任何的情况下，你能你的测量将是的并可重复的。
- 高可重复的，3-坐标（X，Y，Z）测量
- 的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度
- 强劲的和直观的计算机软件以及数据处理功能
- 测量平台选配件
- 视频边缘辨别（VED）用于增强的效益测量
- 成像采集选配
直观的计算机软件
Hawk 的QC-5000测量系统专为一些用户要求紧公差的测量、精密元器件、或观察的形状，如反差小的塑料。QC-5000计算机软件集成通用的设置规则与强劲的数据处理和分析工具，包括统计学的运算管理（SPC）以及CAD输入/输出端口。
Hawk 5000测量平台 - 详细说明
Hawk 5000是以和精密为主而设计，从而适用于对各类型复杂元器件形状的高质量管理工作。Hawk 5000给予令人钦佩的度、可重复性以及重现性，并可选配有各类的选配件和附属配件，其中包括选配成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别（VED）。
优异的光学技术
精密元器件的非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。
Hawk 5000采用英国工业显微镜有限公司的光学技术，为和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。
有所视频系统数码化光学信息。Hawk 5000与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件能准确地被测量。
精密测量平台
Hawk 5000可选配各种高规范、的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米。的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以优良的，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以合ISO9000质量。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这该系统2μm的可重复性。*
强劲的计算机软件
数据处理由QC-5000全几何的计算机软件完成，并适用于测量复杂的三维元器件形状。QC-5000软件专为应付繁忙的质量控制部门的需求而设计，功能包括简化复杂的测量程序，提供强劲的数据导入、导出以及分析工具，亦包含统计学的运算管理（SPC）。
选配件和附属配件
表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。
| 轮廓 | 表面 | 轮廓和表面 | ||
* 采用200毫米 x 150毫米的测量平台（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）
- 高可重复的，3-坐标（X，Y，Z）测量
- 的光学成像明确地辨别轮廓，提供卓越的分辨率和对比度
- 强劲的和直观的计算机软件以及数据处理功能
- 测量平台选配件
- 视频边缘辨别（VED）用于增强的效益测量
- 成像采集选配
直观的计算机软件
Hawk 的QC-5000测量系统专为一些用户要求紧公差的测量、精密元器件、或观察的形状，如反差小的塑料。QC-5000计算机软件集成通用的设置规则与强劲的数据处理和分析工具，包括统计学的运算管理（SPC）以及CAD输入/输出端口。
Hawk 5000测量平台 - 详细说明
Hawk 5000是以和精密为主而设计，从而适用于对各类型复杂元器件形状的高质量管理工作。Hawk 5000给予令人钦佩的度、可重复性以及重现性，并可选配有各类的选配件和附属配件，其中包括选配成像采集、全几何的计算机数据处理和视频边缘辨别（VED）。
优异的光学技术
精密元器件的非接触式测量要求高分辨率、高对比度成像、和结合一个精密的测量平台。
Hawk 5000采用英国工业显微镜有限公司的光学技术，为和简易的测量，提供强化的表面清晰度。优异的光学透明度同时能同步地进行细致的视觉检测。
有所视频系统数码化光学信息。Hawk 5000与其区别之处，是运用一个没经过测量前处理的纯光学成像。元器部件能准确地被测量。
精密测量平台
Hawk 5000可选配各种高规范、的测量平台，提供测量规格可达 400毫米x 300毫米。的测量平台均已通过非线性误差修正（NLEC）方法进行出厂前的预装校准，以优良的，这校准可溯及NPL/NAMAS/NIST国际标准以合ISO9000质量。结合0.5μm分辨力的测量译码器，这该系统2μm的可重复性。*
强劲的计算机软件
数据处理由QC-5000全几何的计算机软件完成，并适用于测量复杂的三维元器件形状。QC-5000软件专为应付繁忙的质量控制部门的需求而设计，功能包括简化复杂的测量程序，提供强劲的数据导入、导出以及分析工具，亦包含统计学的运算管理（SPC）。
选配件和附属配件
表面光和底部光照明装置选配件能使光源调节适用于任何测量应用。表面光照明装置由一组6-点光的无影环形灯提供，可加装同轴光装置（光线透过物镜）的选配件，用于观察盲孔或深层形状。快速更换的低放大倍率选配件为：x10倍、x20倍、x50倍和x 100倍（x20倍作为标配），配置率物镜，并可装插在四孔位的物镜转换器上，其放大倍率为：x50倍、x100倍、x200倍、x500倍和x 1000倍。
| 轮廓 | 表面 | 轮廓和表面 | ||
* 采用200毫米 x 150毫米的测量平台（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）
| Hawk 5000 | |
| 放大倍率选配件 | x10, x20*, x50, x100, x200, x500, x1000 |
| 表面照明装置选配件 | 150瓦6-点光环形灯* 100瓦同轴光（光线透过物镜） |
| 底部光照明装置 | 100瓦，底部光 |
| 数据处理器选配件 | QC-200 QC-300 QC-5000* |
| 的测量平台选配件 | |||||||||
| 150毫米 x 150毫米 测量平台选配件 | 200毫米 x 150毫米 测量平台选配件 | ||||||||
| 测量范围X Y Z† | 150毫米 150毫米 200 - 250毫米 | 测量范围X Y Z† | 150毫米 150毫米 200 - 250毫米 | ||||||
| 平台玻璃负荷 | 15公斤 | 平台玻璃负荷 | 20公斤 | ||||||
| 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.0005毫米 | 译码器分辨率X Y Z | 0.0005毫米 0.0005毫米 0.0005毫米 | ||||||
| 平台可重复性X Y Z | 0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米 | 平台可重复性X Y Z | 0.002毫米 0.002毫米 0.008毫米 | ||||||
| 测量误差 | U952D = 4+(5.5L/1000)μm‡ | 测量误差 | U952D = 2+(4.5L/1000)μm‡ | ||||||
| 的测量平台选配件 | ||||||||
| 300毫米 x 225毫米 测量平台选配件 | 400毫米 x 300毫米 测量平台选配件 | |||||||
| 测量范围X Y Z† | 300毫米 225毫米 40 - 89毫米* | 测量范围X Y Z† | 400毫米 300毫米 40 - 89毫米* | |||||
| 平台玻璃负荷 | 25公斤 | 平台玻璃负荷 | 25公斤 | |||||
| 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 | 译码器分辨率X Y Z | 0.001毫米 0.001毫米 0.001毫米 | |||||
| 平台可重复性X Y Z | 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 | 平台可重复性X Y Z | 0.010毫米 0.010毫米 0.010毫米 | |||||
| 测量误差 | U952D = 15+(6.5L/1000)μm‡ | 测量误差 | U952D = 15+(8.5L/1000)μm‡ | |||||
† 取决于配置。
‡ L = 长度，毫米（x200 的系统放大倍率，控温摄氏20度，使用在玻璃格栅上可追溯镀铬件以及在标准测量平面上的交叉点）。
