OANE - 860nm纳米光子学光谱仪（成像/O伤测试NDT）

OANE-860 纳米光子学光谱仪 （光学相干层析成像/伤测试（NDT）应用O） 光学性能相当于自由空间产品 、可升级、稳定封装 款用于O的纳米光子学光谱仪系统，解决了传统光学元件的体积限制问题。 Tornado的OANE-860光谱仪使用集成光学元件作为它的光学，外形很小，但光学性能相当自由空间水平。 设计用于OEM生产。 OANE优势 1、灵活的中心波长和光谱范围; 2、无移动部件/对准要求； 3、温度稳定和隔振性能良好； 4、一体式O光谱仪； 5、大批量生产； 6、单模光纤输入； 7、小型化； 8、； 9、从要求到原型数周时间； 10、无移动部件； 11、基于晶圆。 OANE-860包含一个偏振光分束器（PBS），PBS与在同一块平面波导（PLC）芯片上的两个色散元件连接。线性阵列（LA）的24像素读出TE偏振光，而后1024像素读出TM偏振光。 规格参数： OANE-860 纳米光子学光谱仪 应用说明： （光学相干层析成像/伤测试（NDT）应用O） 一、光学相干层析成像：开启NDT潜能 Tornado Speral开发了的OANE光子学光谱仪系列用于O应用。它们满足商用O光谱仪的工业标准，使用自由空间组件而是使用集成光学元件作为光学。它们是伤测试应用上光学性能卓越，且能根据要求定制商用方案。 工作原理 O工作方式与声波相似，但是使用光波而不是声波。光在样品或物体上进行扫描并观测。通过处理反射回来的光然后转换创建可达几个毫米的深度剖面。成像深度取决于样品的光学性能和O器件的配置。成像分辨率也由O器件配置确定，可的轴向和横向分辨率。 O扫描实例 二、伤测试（NDT）应用O Tornado的OANE使用纳米光子学技术，克服了自由空间限制，使O用于伤测试成为可能。由于O的快速、准确、扫描时间短的特点，所以适合用于NDT。 光学相干层析是完成液晶显示屏（LCD）坏点检测的一种方法。芯片上O不会受到以下因素限制： 成本效率、尺寸、操作和显示结果。这种伤方法适用于平面平板或柔性显示器。 传统O的挑站 1、高成本小批量；O系统要求昂贵的光学组件，且需对准； 2、大器件外形不便于在线质量和控制系统的集成平； 3、仪器受振动和温度变化影响大； 4、要求重复校准。 Tornado的OANE技术 1、及早发现失效和不合要求的测量； 2、纳米级光子学结构无需对准； 3、无接触、非入侵和伤工作； 4、实时的原位二维和三维成像，快速结果； 5、轴向和横向分辨率； 6、成像深度可达几个毫米。