①光学座标系统为基点测量产品的任意二维尺寸。
②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。
③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量结合。
全自动编程：光学测量及探针测量可同时在一组编程中混合使用。
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基本功能介绍：
1. 提供影像量测工具，可进行基本几何元素点线圆弧量测
2. 组合元素量测，如角度,,圆心距,圆切线,两线距，两线中线,中心点，垂直距离，角平分线,两线交点等
3. 形位误差量测，如同心度,真圆度,直线度,平行度等
4. 强大之数算分析
5. 影像直接经由计算机屏幕显示观察直接量测存盘
6. 利用影像工具可快速进行2D轮廓边界点扫描
7. 量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转TXT、WORD、EXCEL及AUTOCAD档案式
8. 提供公差分析，可进行之品管检验
9. 工件的对象化可直接对对象进行几何基本运算
10. 兼容于2000, XP操作系统
功能介绍：
11. 自动对焦
12. 影像自动捕捉，操作简便，量测高
13. IUI功能，以尽可能少的时间完成操作
14. AUTOCAD读档，图形比对
15. 全自动同心变倍，同一工件可在不同倍率下量测
16. 工作不摆正，有座标转换功能，量测效率高
17. 全自动编程测量
18. SPC功能
19. 静态量测功能。
