Metricon 公司 的 Model 2010 棱镜耦合仪使用先进的光波导技术，对电介质及聚合物膜的膜厚和折射率 / 双折射进行快速及准确的测量。对于许多薄膜及光波导用途，Model 2010 提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。
棱镜耦合波导测试仪主要技术指标：
折射率 :±0.001 ( 甚至更高 0.0001-0.0002)z 折射率分辨率 :±0.0003( 甚至高于 0.00005)
厚度 :±(0.5%+50A) 厚度分辨率 :±0.3%
折射率测量范围 :2.65 以下 ( 一些情况可达 3.35 以下 )
操作波长 :632.8nm,1310nm,1550nm 以及其他可见光 / 近红外光
允许的基底材料 : 硅、砷化镓、玻璃、石英、GGG、蓝宝石、锂酸铌等
软件 :windows version 操作软件
输出 : 计算机显示和打印机输出
2010 棱镜耦合仪的主要特点：
中 / 厚膜膜厚及折射率 ( 尤其是光波导 )测量的选择
不需要预先知道膜的厚度
独特的气压耦合方式 , 不需要加耦合液
MODEL 2010 的优势
Model 2010 数据分析软件是完全通用的，兼容 Windows XP /Vista / Windows 7, 极大地提高了用户友好的控制程序 , 和新测量的功能，允许测量从常见到特殊的薄膜而不需依靠内部系数或菜单式校准曲线。
不必预先知晓厚度及折射率
±0.0005 常规折射率分辨率 - 尤其在大批量生产时比其他技术更具优势（可获得更高折射率）
完全通用化 - 没有固定的薄膜 / 基底合并菜单
可测量双膜结构中的单膜厚度及折射率
可进行体材料或基底材料的高折射率测量
快速测量薄膜或漫反射光波导参数（20s）
美国 Metricon 公司生产了世界台棱镜耦合仪，开创了在薄膜、大面积材料、光波导等实际应用中的棱镜耦合测量技术，多年来已经有超过千套测试系统在多个大学，研究所和企业实际应用。
