I-33C+ 集成电路测试仪

本系统的主要特点

I-33C集成电路测试仪:
可测1300种器件.
可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
器件代换查询,内部RAM数据修改,
EPROM、EEPROM器件读出写入.

主要功能

器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
内部RAM数据修改：I?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
EPROM、EEPROM器件读入：I?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。
EPROM、EEPROM器件写入：I?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。

可 测 器 件（1300多种）

CMOS40系列：103种。
CMOSMC140系列：103种。
CMOS45系列：60种。
CMOSMC145系列：60种。
光耦合器系列：133种。
TTL74/54系列：714种。
TTL75/55系列：82种。
数码管系列：
0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
常用RAM系列：

EEPROM系列：

EPROM系列：

微机外围电路系列：
8728 Z8OC(8O2)
常用单片机系列：
8752
其他系列：
6MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506