所属城市:深圳市
[供应积分:38 采购积分:153]联系人: 熊先生 先生
电话:0755-82047754-806
传真:0755-82047767
手机:15814060108
QQ MSN:
CIE平均化LED光度测量系统 AL-1000
● 采用符合CIE平均化LED光度量测规范之光学架构。
● 自动化的量测平台可对数组式排列的LED进行光度量测。
● 新型光谱仪可达到更细致的动态范围检测。
● 搭配电源供应器,可自动变更电压、电流进行量测。(选配)
● 搭配温度控制器,可自动变更量测环境温度。(选配)
Condition A 0.001(2deg.) 0.316
Condition B 0.01(6.5deg.) 0.100
量测项目:
? CIE平均化LED光度〔JIS C8152〕
? 放射状光束(光谱)
? 色度坐标(u, v)〔CIE 1960UCS〕
? 色度坐标(x, y)〔JIS Z 8724〕
? 色度坐标(u', v')〔CIE 1976UCS〕
? 相关色温与Duv〔JIS Z 8725〕
? 主波长(Dominant)〔JIS Z 8701:1999〕
? 刺激纯度(Purity)〔JIS Z 8701:1999〕
? 演色指数(Ra, R1~R15)〔JIS Z 8726〕
系统架构:
(1) 计算机设备 (2) 分光光谱仪 (3) 受光光纤
所属城市:深圳市
[供应积分:38 采购积分:153]联系人: 熊先生 先生
电话:0755-82047754-806
传真:0755-82047767
手机:15814060108
QQ MSN:
分光光谱仪 MCPD-9800高动态范围系列 日本OTSUKA牌 品牌 日本OTSUKA 型号 MCPD-9800 波长范围 240-1600(nm) 外形尺寸 110(W) x 230(H) x 282(D)mm(mm) 重量 6000(g) 亮部至暗部曝光,极致的高动态范围检出能力,曝光时间可低至5msec。 极高的检测能力,对于弱光的检出能力是普通光谱仪的5倍。 日本Otsuka电子公司旗下Photal品牌MCPD(多通道光学检测器)系列 30年专业经验累的最新成果。 配备各种光纤探头,满足各种检测需要。 最新结构设计,体积小、重量轻,方便移动式测量 紫外、可视、近红外光分光光谱仪 MCPD-3700 近红外光分光光谱仪 MCPD-5000/MCPD-N500 高感度分光光谱仪 MCPD-7700 发光光谱量测 穿透率、吸收率光谱量测 反射率光谱量测 荧光量测 物体色量测 光源色量测(色度、辉度、照度) 膜厚量测 3683C 311C 2480C 波长范围360 ~ 830 nm 360 ~ 1100 nm 240 ~ 800 nm 分光组件光栅分光, F=3,f=85.8mm 感光组件CCD影像传感器(电子冷却) 512ch 1024ch 512ch 1024ch 512ch 1024ch 解析能力1.0nm0.5nm1.6nm0.8nm1.2nm0.6nm 光纤规格石英制光纤,金属包覆,固定口径∮1...
LED高速光谱分析系统 LE series LE-4400 LE-5400 产品特色与LED生产线的控制讯号同步,高速测量,迅速传输数据。透过Windows API关数(.dll)来与客户端所使用的软件连结,提供解析数据及量测结果。 (客户端须具备程序开发能力)可利用各式光纤与搭配组合,提供良率判定以及等级区分等质量管理上所需的重要信息。感光组件具备有电子冷却功能,常时保持最佳使用状态。 相关产品LED光学特性检测系列 FM/AL/GP series测量项目三刺激值(kX、kY、kZ)*色度坐标(x、y)色度坐标(u、v) 色度坐标(u’、v’)主波长(Dominant)、刺激纯度(Purity) 相关色温与Duv演色指数(Ra,R1~R15) 波峰(λmax)位置、高度,半高波宽第二高度波峰的位置、高度 积分值(Summation)重心波长 指定之波长高度量测依据波峰计算短波长与长波长的积分值 * 视所量测之LED及光学系统本身的差异,亮度值(kY)需在固定距离、位置、方向的量测条件下可达到再现性。 应用范围LED发光二极管 规格 LE-4400 LE-5400分光方式: 光栅分光, F=3,f=135mm感光组件: PDA (电子冷却) CCD (电子冷却)量测波长范...
日本三丰轮廓测量仪-三丰轮廓仪...
品牌奇石缘型号仪器化摆锤测控...
远方LED静电分析测试系统由EMS...
色彩分光仪,显示器检测仪。光...
便携式充电器528,分光光度仪。...
氟化氢检测仪,适用于检测有毒...
剥离强度仪采用直流伺服电机及...