所属城市:
[供应积分:52 采购积分:177]联系人: 董世长 先生
电话:021-6150 4567
传真:021-6130 3508
手机:18602158828
QQ MSN:
美国能源之星Energy Star认可实验室提供半导体照明光学测试系统
LED光通量/辐射通量及电参数和色度测量
辐射通量
光通量
峰值波长
质心波长
主波长
半峰值带宽
CIE光谱纯度
CIE色度
正向电压
正向电流
反向漏电流
特点:
可测量单颗LED、LED 模组及小型光源;
系统包括积分球、光谱仪、数据分析软件、标准灯、辅助灯、电源及多种探头;
系统可实现LED 光强的光谱特性测量,满足CIE127 标准的规定;
可实现LED 空间光强分布测量,实现全空间测量,最小分辨率达到1 度;
可实现光源的光学、辐射度学、色度学及电学特性分析;
包括光谱通量、光效、光谱强度、照度、光强空间分布、色品坐标、色温、 显色性指数、峰值波长、主波长、色纯度、半宽度、色比、光谱功率分布等;
系统包含TE 制冷的高性能CCD 光谱仪,保证测量数据的可靠性;
溯源至NIST(美国国家标准局)的光学校准,可保证绝对量值得高度准确;
可客户在线校准和验证,避免返回原厂校正;
快速采集数据实时显示图形;
样品置于中心,实现4p测量全通量,或置于球壁进行2p测量,满足各测量标准的规定。
带吸收光修正辅助光源设计,极大地提高了测量准确度;
可选用积分球获光强探头实现LED的在线分选
可实现大功率和小功率LED的分选功能
可实现硬件触发软件同步采集。
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产品特点 可分析单层或多层薄膜 分辨率达0.1nm 适合于在线监测 操作理论 最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和投射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。 查找n和k值 可以进行多达三层的薄膜测量,薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库,用户也可以自己添加和编辑。 应用 NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量,包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。 NanoCalc系统 NC-UV-VIS-NIR 重量: 250-1100 nm 厚度: 10 nm-70 m 光源: 氘卤灯 NC-UV-VIS 重量: 250-850 nm 厚度: 10 nm-20 m 光源: 氘卤灯 NC-VIS-NIR 重量: 400-1100 nm 厚度: 20nm-100μm (可选1μm-250μm) 光源: 卤灯 NC-VIS 重量: 400-850 nm 厚度: 50 nm-20μm 光源: 卤灯 NC-NIR 重量: ...
技术参数 检测技术 涡流。 工作频率 60千赫兹正弦波。 显示 液晶显示,有背光照明。 尺寸 220长×96宽×40厚mm。 外壳及防护 高抗冲击、防水淋聚酯外壳;容纳仪器、探头、探头电缆、操作手册的防护盒及手替式箱。 重量 0.4公斤(含电池)。 供电 3节AA充电电池(Ni-MH),或3节1.5V AA碱性电池,不使用背光照明可持续工作60小时。 最小检测面积 直径14mm。 电导率测试范围 8.6 %IACS到110 %IACS,5-64 MS/m。 分辨率 10到110 %IACS,0.1 %IACS。 提离效应 探头补偿0.020”(0.5mm)。 精度 (温度范围0-40℃) ±1 %测量值 探头与被检测金属温度平衡。 温度测量 测量范围0℃到+50℃(精度达0.5℃)。 自动补偿功能 电导率测量结果自动矫正为20℃数值。 环境条件 可靠工作条件:0~95%相对湿度,温度0℃到+50℃。 读数存储器 可以保存达500个测量数据文件。 探头 13mm直径探头可工作在60千赫兹,用户可自行更换探头。 附件 参考标样,我们为野外作业提供一系列可追溯的电导率参考标样,在阳极氧化铝安装板上可以容纳2片标样。 实际应用 Sigma2008在电导率测试领域内有很多应用,他适用于: ·识别和查验合...
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