X5精密显微熔点仪 仪器简介：物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一。目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。 主要技术参数及配置：1. 放大倍数：两档变倍体视镜,2 0X-40X 2. 视场直径：11mm-5.5mm 3. 样品量＜1mg/次 4. 工作距离110mm 5, 显示方式: LED数码管,温度四位(双排4位7段高度数码管显示) 继电器输出:时间比例,周期20秒 6. 测量范围：测量范围室温-320℃(分辨率:0.1℃) 7、测量:±0.5℃(200℃以下);±1℃(200℃以上) 8、控制方式：自动调节及手动连续调节，PID控制 9、断电保护：断电后参数不丢失，重新加电后无须重设测量误差: 全量程±0.5% 10. 测温方式：温度传感器，温度值LED数显，设定上下限报警，自动控温 11. 电源/功率:AC220V 50HZ/250W 12.使用环境：温度：0℃～ 40℃ 湿度:≯85%1 3. 配置:控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子 仪器结构原理：本仪器显微镜、加热台为分体结构,通过简单式热传感器相联接，装配简单,使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热，并带有散热器,可快速降温。可用于载波片法测量，也可用毛细管测量熔点。 操作方法：1. 新购仪器，电源接通，开关打到加热位置，从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中，若左右偏，可左右调节显微镜来解决。前后不居中，可以松动热台两旁的两只螺钉，注意不要那下来，只要松动就可以了，然后前后推动热台上下居中即可，锁紧两只螺钉。在做推动热台时，为了热台烫伤手指，把波段开关和电位器扳到编号小位置，即逆时针旋到底。 2. 进行升温速率调整，这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时，记录下这时的温度值，然后，秒表转一圈（一分钟）时在记录下温度值。这样连续记录下来，直到你所要求测量的熔点值时，其升温速率为1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动，但随着温度的升高，其升温速率会变慢。 3. 测温仪的传感器上，把其热台孔到底即可，若其位置不对，将影响测量准确度。 4. 要得到准确的熔点值，先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。（修正值=标准值- 所测熔点值），作为测量时的修正依据。注意：标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时，（样品的熔点值=该样品实测值+修正值）。 5. 对待测样品要进行干燥处理，或放在干燥缸内进行干燥，粉末要进行研细。 6. 当采用载——该玻片测量时，建议该盖玻片（薄的一块）放在热台上，放上药粉，再放上载波片测量。 7. 在数字温度显示小一位（如8或7之间跳动时）应读为8.5℃。 8. 在重复测量时，开关处于中间关的状态，这时加热停止。自然冷却到10以下时，放入样品，开关打到加热时，即可进行重复测量。 9. 测试完毕，应切断电源，当热台冷却到室温时，方可将仪器装入包箱内。 10.建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。 并请注意（1）室温的影响；在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢。 （2）电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。编号越大，升温速率越快。 主要特点：1. 本仪器使用毛细管法进行测量。 2. 根据要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。 3. 本仪器采用LED数字显示熔点温度值。 4. 本仪器结构简单，使用方便。 5. 升温速率连续可调。 北京中仪博腾科技有限公司 | 
