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| 价 格: | ¥3,800.00元 | |
| 型 号: | ICT-33C |
|
| 品牌/商标: | 无线电仪器厂 | |
| 企业类型: | 制造商 | |
| 新旧程度: | 全新 | |
| 原产地: | 北京 | |
| 说明书下载 : | ICT-33C数字IC测试仪 |
产品特点:
◆器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
◆器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
◆器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致,引脚排列一致的器件型号。
◆电压调节选择:3V、5V、9V、15V。
◆内部RAM数据修改:ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
◆EPROM、EEPROM器件读入:ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件写入:ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中,并自动校验。
◆ 新增RS232接口,与PC通讯,互送资料。
技术规格:
1、CMOS40系列:103种。
2、CMOSMCI40系列:103种。
3、CMOS45系列:60种。
4、CMOSMCI45系列:60种。
5、光耦合器系列:133种。
6、TTL74/54系列:714种。
8、数码管系列:
0.5寸共阳[001];共阴[002];0.3寸共阳[003];共阴[004];0.7寸共阳[005];共阴[006].
7、TTL75/55系列:82种。
9、常用RAM系列:
2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128 24C01 24C02 24C04 24C08
24C16 24C32 27C010 29C256 29C010 24C64 93C46 93C56 93C66 28C256
10、EEPROM系列:
2816 2817 2864 28256 28040 29101
11、EPROM系列:
2716 2732 2764 27128 27256 27512
12、微机外围电路系列:
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226
8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254
8251 8708 6840 8718 8728 8279 Z80CTC(802)
13、常用单片机系列:
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752 89C1051 89C2051
8751H 87C52 89C51 89C
14、其他系列:
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908
339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804
9637 9638 7831 7832 8831 88323 446MC1413(2003)
MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161)
MC14162(40162)MC14163 (40163) TIL308 MC14189(75189)
2902(324) 8T26(826) AD506
ICT的功能 能够在短短的数秒钟内,全检出组装电路板(loaded PC board)上零件-电阻、电容、电感、电晶体、二极体、稳压二极体、光偶器、继电器等零件,是否在我们设计的规格内运作。 能够先期找出制程不良所在,如漏件(missing part)、折脚(bending)、短路(short)、锡桥(bridge)、反向(miss-oriented)、错件(wrong part)、开路(open)、焊接不良等问题,回馈到制程的改善。 能够将上述故障或不良资讯以印表机印出测试结果,包括故障位置、零件标准值、测试值,以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技术依赖度,不需对产品线路了解,照样有维修能力。 测试点数(标准配置) 384 pins(Standard) ,最高512pins;可根据客户需求另外扩充 测试步骤 无限制 开关卡 每一通道卡有64个通道 隔离点 每一测试有10个 测试速度 开/短路 : 0.5sec/1024 points 每一零件 : 2ms ~ 40ms/step A/D...D/A 14 位元 信号源 AC 电压 : 10mVPP ~ 2500mVPP DC 电压 : 10mV ~ ±1250mV AC/DC 电流 : 10uA ~ 20mA 测试频率 : AC 100 ~ 100KHz 测试范围 电阻 0.1Ω ~ 40MΩ ±1%~5% 电容 1pF ~ 40mF±2%~5% 电感 1uH ~ 50H±2%~5% 二极体及DR模式 0.1 ~ 6V±1%~3% 稳压二极体 0.1 ~ 15V±1%~3%(标配)或0.1~50V±1%~3%(选购全Realy开关卡) 电晶体 三端测试Vce饱和电压及β值 场效电晶体 三端测试Vds, Cds , Rd(on) 光藕器及继电器,用四端测试其导通电压或电阻 电解电容器极性测试 3端电解电容极性测试 ,2端漏电法
产品介绍: GUT-6000A是一款台式IC测试仪。鉴于使测试任务自动化,GUT-6000A包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智能化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000A更接近零维护,减少了使用者不必要的争议。测试器件大1800多种常见的TTL和COMS器件,真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。技术特性:循环测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能 可测量的IC 种类超过 1800 种 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS测试针脚: 28 Pin一般特性: 测试范围 54/74 系列 TTL 4000 及 4500 系列 CMOS 测量种类 约 1800 种 测试电压 5V DC 测试时间 高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC 电源 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz 尺寸&重量 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm约 1.5 公斤
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