1、仪器规格:
? 外形尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (长x宽x高)
? 样品仓尺寸 :360mm×330 mm×50 mm (长x宽x高)
? 仪器重量 :33.5kg
? 供电电源 :AC220V/ 50Hz
? 功率 :330W
? 工作温度 :15-30℃
? 相对湿度 :≤85%,不结露
2、镀层测厚仪器特点:
? 外形特点:
e 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
e 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
e 样品盖采用铅玻璃防辐射技术,在保证操作人员安全的前提下,方便观察样品;
e 表面采用汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
? 辐射防护:
e 样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽X射线。
e 辐射标志警示。
e 迷宫式结构,防止射线泄漏。
e 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线。
e 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
? 硬件技术:
e 超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
e 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
e 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计。
e 电路系统符合EMC、FCC测试标准。
e 快拆卸样品台,换薄膜更方便。
? 软件技术:
e 分析元素:Na~U之间元素。
e 分析时间:60~400秒。
e 配置RoHS检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。
e 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
e HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
e HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
e HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。
镀层测厚仪器硬件配置
1、探测器
? 类型:Si-PIN探测器(采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器)
? 进口探测器
? Be窗厚度:1mil
? 晶体面积:25mm2
? 分辨率:149eV
? 信号处理系统DP5
2、X射线管
? 电 压 :0~50kV
? 电流 :2.0mA
? 功率 :50W
? 靶 材 :Mo
? Be窗厚度 :0.5mm
? 使用寿命 :大于2万小时
3、高压电源
? 进口高压电源
? 输出电压:0~50kV
? 灯丝电流:0~2mA
? 功率:50W
? 纹波系数:0.1%(p-p值)
? 8小时稳定性:0.05%
3.4、摄像头
? 微焦距
? 免驱动
? 500万像素
3.5、准直器、滤光片
? 快拆卸准直器、滤光片系统
? 多种材质准直器
? 光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
? 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换